静电是时时刻刻到处存在的，但是在二十世纪40-50年代很少有静电问题，因为那时是晶体三级管和二极管，而所产生的静电也不如现在普遍存在。在60年代，随着对静电非常敏感的MOS器件的出现，静电问题日渐明显，到70年代静电问题越来越严重。80-90年代，随着集成电路的密度越来越大，一方面其二氧化硅膜的厚度越来越薄（微米一纳米），其承受的静电电压越来越低，另一方面，产生和积累静电的材料如塑料，橡胶等大量使用，使得静电越来越普遍存在。

  在生产过程中，如果元件全部破坏，必能在生产及品管中被察觉而排除，影响较小。如果元件轻微受损，在正常测试下不易发现，在这种情形下，常会因经过多层的加工，甚至已在使用时，才发现破坏，不但检查不易，而且其损失亦难以预测。要耗费很多人力及财力才能清查出所有问题，而且如果在使用时才察觉故障，其损失可能巨大。

以下是静电对电子产品损害的四个特点：

1、隐蔽性

人体不能直接感知静电,除非发生静电放电，但是发生静电放电人体也不一定能有电击的感觉，这是因为人体感知的静电具有隐蔽性。

2、潜在性

有些电子元器件受到静电损伤后的性能没有明显有下降，但多次累加放电会给元器件造成内伤而形成隐患。因此静电对器件的损伤具有潜在性。

3、随机性

  电子元器件什么情况下会遭受静电破坏呢？可以这么说，从一个元器件产生以后，一直到它损坏以前，所有的过程都受到静电的威胁，而这些静电的产生也具有随机性。

4、复杂性

静电放电损伤的失效分析工作，因电子产品的精、细、微小的结构特点而费时、费事、费钱，要求较高的技术并往往需要使用扫描电镜等高精密仪器。即使如此，有些静电损伤现象也难以与其他原因造成的损伤失效当作其他失效。这在对静电放电损害未充分认识之前，常常归因于早期失效或情况不明的失效，从而不自觉地掩盖了失效的真正原因。所以静电对电子器件损伤的分析具有复杂性。